Уфология. Уфологи об НЛО. Инопланетяне. Аномалии, явления и пришельцы. Новости. Уфология в России.
2. МЕТОД  РЕГИСТРАЦИИ  ИЗМЕНЕНИИ  ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ (ЭФП) КВАРЦЕВЫХ РЕЗОНАТОРОВ (32768 Гц)

Для обнаружения  вторичного долгофункционирующего  фактора энергетического влияния  в  посадочных  местах  НЛО  в  качестве приемников-индикаторов также использовались кварцевые резонаторы, по величине изменения электрофизических свойств (ЭФП)  которых  и представляется возможным регистрировать то,  что принято называть "хрональным эффектом".  Профессор Козырев  связывал это  явление с изменением плотности времени.  Аналогичный эксперимент был проведен и описан им еще в начале 70-х годов [5].  Он использовал  в качестве энтропийного  процесса,  вызывавшего изменение плотности времени,  испарение спирта вблизи приемника-индикатора кварцевого резонатора (11  МГц). При этом регистрировалось увеличение частоты его собственных колебаний на 1 Гц,  что по порядку  соответствует равноценному изменению электросопротивления резистора, включённого в мост Уитсона,  подвергаемого воздействию изменения плотности времени, вызванного  тем  же процессом.  Соответственно процессы, приводящие к поглощению плотности  времени,  вызывали  адекватное сокращение частоты собственных колебаний кварцевой пластины.

Впервые на уфологическую почву, в прямом и переносном смысле, теорию Н.А. Козырева перенес В.И.  Забелышенский  в своей брошюре "По следам - НЛО",  изданной в 1991 году  УФОцентром [4],  где  он однозначно  указал на прямую связь между изменением электрофизических свойств кварцевых резонаторов в посадочных  местах  НЛО  и изменением плотности времени. Это представляется значительным шагом вперед по отношению к традиционной трактовке "хронального эффекта" как линейного увеличения (уменьшения)  темпа  хода  времени [6]. Данный метод, применение которого в уфологической практике уже сейчас можно назвать классическим,  относится к  числу  резонансных.  Основан он на явлении резонанса, возникающего при взаимодействии частоты колебаний  задающего  генератора  с  одной  из собственных  частот  колебаний, включенного в его цепь кварцевого резонатора,  выполняющего  в данном случае  роль стабилизирующего элемента схемы.

Известно, что в ходе  обратимых  процессов  могут  образовываться равновесные  структуры.  В  данном  случае  речь  идет  о кристаллах и  прежде всего  кристаллах кварца, являющегося сырьем для изготовления пьезоэлемента -  основной  "детали"  резонатора. Учитывая,  что именно кристаллические структуры обладают повышенной "восприимчивость»" к воздействию на их информационную  структуру изменений плотности времени,  следовало бы, принимая во внимание лишь данный факт, обратить особое внимание на изменение под действием  данного вида воздействия  некоторых электрофизических параметров (ЭФП) кварцевых резонаторов, к числу которых, безусловно, относится  и частота его собственных колебаний (частота резонанса). Упомянутый выше  резонансный  метод  характеризуется частотой резонанса цепи Lкв.  Скв без учета потерь,  образованных дополнительными емкостями  монтажа и межэлектродной емкостью резонатора, равной

где Lкв и  Скв - эквивалентные динамические параметры кварцевого резонатора, соответственно индуктивности и емкости.

Данная зависимость показывает,  что любое отклонение (изменение) от первоначальной (начальной) частоты резонанса, под влиянием изменения плотности времени  может быть вызвано изменением эквивалентных параметров индуктивности и емкости, вызванным, в свои очередь, структурными изменениями кристаллической решетки  кварца пьезоэлемента резонатора.

Исследование осциллограмм,  характеризующих увеличение амплитуды вынужденных колебаний задающего генератора при резонансе, с поочередным использованием в его цепи в качестве стабилизирующего элемента двух различных резонаторов  (назовем их № 1 и № 2) обнаруживает  некоторую (в ряде случаев существенную) разницу в  величинах  амплитуд  колебаний  в  первом и втором случаях.  Данные несоответствия  показывают  существенные  различия  резонансных свойств колебательной системы при использовании в ее цепи, различных кварцевых резонаторов.

Величина, характеризующая  резонансные свойства колебательной системы - добротность (Q),  показывающая во сколько раз амплитуда вынужденных  колебаний  при резонансе превышает амплитуду при его отсутствии. Чем выше добротность, тем меньше потери энергии в ней за период.

Добротность кварцевого резонатора выражается соотношением:

где  Rкв - (в дополнение к Lкв и  Скв)  эквивалентное  динамическое сопротивление резонатора.

Учитывая вышесказанное, следует, что под действием изменения плотности времени, вызывающего соответствующее изменение структуры кристаллической решетки кварца (пьезоэлемента резонатора), помимо  изменения  величины  fрез - частоты резонанса колебательной системы, в которой в качестве стабилизирующего элемента используется резонатор,  должно иметь место изменение и его параметра (Q) добротности.

Величину добротности данного кварцевого резонатора, применяемого в  дальнейшем в качестве датчика,  может характеризовать его "кривая активности".

Частота вынужденных колебаний задающего генератора (мультивибратора) Гген выражается соотношением:

fген=1/  Rген.*Сген.  ( 6 )

где Rген.- сопротивление  и Сген. - емкость задающего генератора,
которое может  быть представлено графически в f-R координатах (частота Гц - сопротивление Ом)
рисунок № 2,  график № 1.  при его работе без кварцевого резонатора.

Подключение в цепь этого же задающего генератора кварцевого резонатора приводит  к  стабилизации  его частоты fрез (32768 Гц) - резонансная частота в диапазоне Rmin-Rmах,  графически представленной на рис. № 2, график № 2. Данная зависимость и характеризует активность данного кварцевого резонатора в  данной  схеме  его возбуждения,  которую можно назвать "кривой активности". Чем "шире" диапазон Rmin-Rmах и.  как следствие,  выше частота Rmах, тем выше  добротность  данного  (применяемого) кварцевого резонатора. Иными словами,  амплитуда вынужденных колебания задающего генератора  в резонансе характеризует активность данного (применяемого) кварцевого резонатора и говорит, в конечном счете, о величине его добротности.

Таким образом, "кривая активности" данного кварцевого резонатора  имеет несколько базовых точек,  изменение положения которых,  после его  пребывания  в  качестве  "индикатора"  в  пространственной области посадочного следа НЛО; может характеризовать, определенным образом, изменение его ЗФП.

Такими точками являются:

Fmах - частота задающего генератора, соответствующая прекращению резонанса (выход, "срыв" резонатора из режима возбуждения),
fрез - частота резонанса.


Значение параметра R электросопротивления задающего генератора, изменением которого достигается определение значения  fmах, определяет такие  параметр Рmах- максимальной мощности колебаний, рассеиваемой на кварцевом резонаторе,  при которой он находится в режиме возбуждения  (резонанса) и которая также является одним из ЭФП, которая  способна  характеризовать  величину  внешнего  воздействия  изменения  плотности  времени в данной пространственной области.

Разработанный в  Лаборатории  "Вега" измерительный комплекс "Вега-028-М" позволяет выявить наличие данных качественных  изменений  ЗФП  кварцевых  резонаторов,  подвергшихся  тестировании в пространственных областях посадочных следов НЛО  различных  типов (в  соответствии  с  классификатором  "Вега")  и  претерпевших, вследствие этого, определенные изменения в кристаллической решетке пьезоэлемента.

Таблица №  2  показывает  характер  изменений  некоторых ЗФП кварцевых резонаторов,  подвергшихся  процессу  тестирования  в пространственной области одного из так называемых "кругов на снегу" фото № 2 (Д-028 по каталогу "Вега").  Их образование связано, по сведению компьютерной базы данных Лаборатории "Вега"- УФОцентр, с  процессами посадок  (низким зависанием) "белых сфероидов" - шарообразных объектов различных "видимых" (наблюдаемых) метрических размеров  (диаметров),  имеющих в момент посадки (низкого зависания) ярко-белый цвет свечения.

На рис.  №№ 3 и 4 графически представлены данные таблицы  № 2.  Они  позволяют  проследить характер "энергетического влияния" данной пространственной области (Д-028),  приведшего к  изменению кристаллической структуры пьезоэлементов,  использованных  в  качестве  индикаторов  кварцевых резонаторов № 1-3,  относительно влияния фоновых изменений плотности времени,  вызванных в  данном случае сезонными (лето-осень) природными биопроцессами.

На рис.  №  3 ось ординат соответствует изменениям fmах  для каждого  индикатора относительно измерений этого параметра,  выполненных  31.08.93. ось абсцисс представляет собой "временную" последовательность  проведения  последующих  измерений соответственно:

1-14.09.93;  2-17.09.93 (10.00); 3-17.09.93 (15.00); 4-20.09.93 Гг., выполненных  в  лабораторных  условиях  до  и после процесса тестирования,  которое было  проведено  17.09.93  г.(12.00:13.00) - время московское,

Обозначения:

И - номер индикатора - кварцевого резонатора,
fmах1 - частота задающего генератора, соответствующая прекращения резонанса (выход резонатора из режима возбуждения),  полученная (дата измерений) 14.09.93 г.  (ГЦ),
fmах2 -  тот  же  параметр, полученный 17.09.93 г.  (10.00) (Гц), fmахЗ - тот же параметр, полученный 17.09.93. (15.00) (Гц),
fmах4 - тот же параметр, полученный 20.09.93 (Гц),
fmах5 - тот же параметр, полученный 22.09.93.  (Гц),
imах1 - ток,  потребляемый задающим генератором, соответствующий максимальной мощности, рассеиваемой на кварцевом резонаторе, при  котором он находится в режиме возбуждения ( в резонансе). Параметр получен 17.09.93 г.  (10.00) (мкA),
imах2 - тот же параметр, полученный 17.03.93 г. (15.00) (мкA), imах3 - тот же параметр, полученный  20.09.93 г. (мкA) ,
U  - напряжение питания задающего генератора. 3,5  (В)
fрез1 - частота резонанса до тестирования  данного  резонатора (Гц),
 fрез2 - тот же параметр после завершения процесса тестирования.

Индикатор № 4 процессу тестирования не подвергался. Процесс тестирования проводился 17.09.93 г. в течение 60 мин. (12.00-13.00)-время московское.

Период между  измерениями  1-5  характеризуется увеличением излучения плотности  времени фона,  на это указывает снижение активности  (добротности)  "фонового" индикатора сравнения  № 4,  выраженное в  адекватном сокращении амплитуды вынужденных колебаний задающего генератора в резонансе и, как прямое следствие  этого, постоянное от измерения к измерении сокращение величины fmах данного резонатора. Аналогичное явление прослеживается и на характеристиках  всех  других  индикаторов кварцевых резонаторов № 1-3 на участке измерений 1-2,  выполненных до процесса тестирования. Некоторые  имеющиеся  несоответствия  в величинах снижения амплитуд вынужденных  колебаний  (характеризующиеся  снижением  параметров fmах)  задающего  генератора при использовании в его схеме данных кварцевых резонаторов  объясняются  индивидуальными  структурными особенностями кристаллических решеток пьезоэлементов данных резонаторов,  вносящих этим дополнительный "коэффициент реагирования" на происходящие фоновые флуктуации плотности времени.

Участок, лежащий между измерениями 2-3, для каждого индикатора кварцевого резонатора,  подвергшегося на данном этапе исследований тестированию в пространственной области посадочного следа Д-028, № 1-3, характеризуется некоторым (в соответствии с "коэффициентом реагирования") увеличением параметра fmах, а следовательно,  соответствующим  увеличением  параметра  добротности  (Q), несмотря на продолжающееся снижение,  на данном участке измерений аналогичных  параметров "фонового" индикатора сравнения №4,  вызванного,  в свою очередь,  фоновыми воздействиями излучения плотности времени.  Характер изменения данных ЭФП индикаторов кварцевых резонаторов № 1-4 на участке измерений 2-3 свидетельствует о присутствии  в  пространственных  областях посадочных следов типа Д-028,  "круги на снегу", постоянно  функционирующего  воздействия, обусловленного  явлением  поглощения плотности времени,  противодействующего  в данный момент проводимых  исследований,  фоновым влияниям  изменения  плотности времени на вещество пьезоэлементов индикаторов  кварцевых резонаторов.

Процесс тестирования индикаторов кварцевых резонаторов приводит к определенному изменению структуры кристаллической решетки их  пьезоэлементов,  выраженному  определенным изменением их ЗФП, которое, как показали исследования, способно оказывать влияние на их  последующее  взаимодействие  с  фоновыми  влияниями изменения плотности времени.  Данное утверждение прослеживается на  примере энергетического влияния посадочного следа Д-028 (график №З).



Так, скорость изменения величины fmах- (Q) индикаторов-кварцевых резонаторов,  подвергшихся  процессу  тестирования в пространственной области посадочного следа Д-028 №1-3, существенно ниже  скорости изменения (снижения) аналогичного параметра "фонового" индикатора сравнения № 4 на участке измерений 3-4-5, выполненных после завершения процесса тестирования,  а следовательно, отражавших реакции на фоновые Флуктуации плотности времени.

Опираясь на вышесказанное, можно, во-первых, охарактеризовать упомянутый выше "коэффициент реагирования" данного конкретного кварцевого резонатора через обнаруживаемую их скорость изменения,  в частности,  параметра f  mах (Q) под действием (влиянием) некоторого "единичного" (эталонового) изменения плотности времени. Чем выше скорость изменения, тем выше "коэффициент реагирования" данного кварцевого резонатора.

Во-вторых,  существует возможность судить о структурных изменениях, происшедших  с  кристаллической  решеткой пьезоэлемента кварцевого резонатора  под влиянием изменения плотности времени, и выраженных некоторым характерным изменением параметра fmах -(Q) (либо иным параметром индикатора любого типа),  исследуя скорость изменения  данного параметра,  его производную,  которая,  в свою очередь,  и будет выражать данное изменение  (влияние)  плотности времени, приведшее к данному изменении ЗФП.

В свою  очередь,  рисунок № 4 показывает характер изменения параметров Imах относительно измерений, выполненных 31.09.93 г. На участке 1-2-3  данного графика  имеет место постоянное, от измерения к измерению, сокращение параметра Imах, характеризующее изменение структуры  "фонового"  индикатора  сравнения.  Индикаторы - кварцевые  резонаторы,  подвергшиеся  процессу  тестирования,  на участке 1-2 данного эффекта не обнаруживают.

Противоположный характер "энергетического влияния"  обнаруживают посадочные  места  НЛО  типа  Д-101 (фото № З ).  Образование посадочных мест данного типа связано с процессами посадок (низким зависанием) "красных сфероидов"- шарообразных  объектов,  имеющих красный цвет свечения.


Обозначения:

И - номер индикатора - кварцевого резонатора,
fmах1 - частота задающего генератора, соответствующая прекращению  резонанса  (выход  резонатора из режима возбуждения). Параметр получен до процесса тестирования,
fmах2 - тот же параметр после завершения процесса тестирования,
fmах - изменение величин Гжах! и  Гиах2 ,
Uпит - напряжение питания (В),
fрез1 - частота резонанса, полученная  до  процесса  тестирования,
fрез2 -  тот  же  параметр,  полученный  после завершения процесса тестирования.
Индикаторы № 1,2 процессу тестирования не подвергались и являются "фоновыми" индикаторами сравнения.
Индикаторы №  3,4,5 подверглись процессу тестирования в пространственней области посадочного следа Д-101 в течение 60 мин.

Индикаторы - кварцевые резонаторы, подвергшиеся процессу тестирования в пространственных областях посадочных мест данного типа, обнаруживают сокращение параметра fmах  и, следовательно, сокращение  амплитуды вынужденных колебаний задающего генератора в резонансе и.  как следствие,  сокращение величины добротности  данных кварцевых резонаторов.  Данный вывод следует из таблицы № 3. Приведенные здесь параметры  показывают,  что  флуктуации  плотности времени  фона привели к некоторому увеличении параметров Гmax индикаторов - кварцевых резонаторов, не подвергавшиеся процессу тестирования № 1, 2.  В то же время индикаторы № 3,4,5,  подвергшиеся данному процессу,  обнаруживают существенно меньшие значения увеличения параметра fmах по отношении к индикаторам № 1, 2.  Следовательно,  постоянно функционирующее влияние со стороны посадочного следа НЛО данного типа может характеризоваться некоторым снижением параметра добротности индикаторов - кварцевых резонаторов, подвергшихся  процессу  тестирования  внутри их пространственных областей.  Необходимо отметить,  что посадочные следы данных типов Д-028, Д-101  отличаются  друг от друга не только противоположным характером влияния на вещество пьезоэлементов индикаторов - кварцевых резонаторов, но и несколько большим "энергетическим влиянием" посадочных следов типа Д-028 по отношении к  следам  типа  Д-101. Объединяет же  их лишь отсутствие у индикаторов - кварцевых резонаторов изменений соответствующей им частоты резонанса - fрез, вероятно, вследствие  недостаточной для этого "энергетичности" данных посадочных мест.

Таким образом,  предложенный  метод  является  наиболее "чувствительным", превосходящий метод регистрации изменений величины fрез (резонансный метод).

Для регистрации изменений ЗФП кварцевых резонаторов, используемых в  качестве  индикаторов изменения плотности времени, также целесообразно использовать  так называемый  "нерезонансный  метод", который,  как и предыдущий, разработан в Лаборатории "Вега":

Вернемся к рисунку № 2,  характеризующему изменения частоты задающего  генератора  в  f-R координатах.  Из него следует,  что после прекращения резонанса , выход кварцевого резонатора из режима возбуждения,  поведение  графика № 2  несколько отличается от поведения графика № 1. Функция, характеризующая изменение частоты задающего  генератора с включенным в его цепь кварцевым резонатором, не находящимся, в режиме возбуждения, смещена вниз по оси ординат  на некоторую величину -Z относительно аналогичной функции, характеризующей  изменение  частоты  этого  же  генератора  с отсутствующим  в его цепи кварцевым резонатором.  Наличие данного "смещения-2" объясняется дополнительными  эквивалентными  динамическими параметрами кварцевого резонатора. Изменение данных эквивалентных параметров необходимо  приводит  к  изменению  величины данного  "смещения".  Относительная  величина  "смещения-Z" может быть представлена (определена) как

Z=fген-fген.кв.  ( 7 )

где fген. - частота задающего генератора без кварцевого резонатора; fген.кв. -  частота  задающего  генератора с включенным в его цепь кварцевым резонатором,  не находящимся в режиме возбуждения  при условии, что fmах  < fген.кв. для данного резонатора.

Разработанный в  нашей Лаборатории прибор "Вега-028" позволяет  в  полевых  условиях  регистрировать  данное  изменение (fген.кв.) ЭФП.

Таблицы № 4 и № 5 характеризуют,  таким образом,  изменения ЭФП  кварцевых  резонаторов, подвергшихся процессу тестирования в пространственных областях посадочных следов  Д-028,  Д-101  соответственно. полученные с использованием вышепредложенного "нерезонансного метода"  относительно "фоновых" индикаторов сравнения. Исследования изменений ЭФП кварцевых резонаторов с использованием "нерезонансного  метода" проводились одновременно с методом измерения изменений параметра - Q добротности с  применением  одних  и тех  же индикаторов-кварцевых резонаторов,  что позволяет в дальнейшем сопоставить полученные результаты.

Обозначения:

fген.  -  частота  задающего  генератора  с  отсутствующим  в его электрической схеме квантовым резонатором (Гц),
fген.кв.1 - частота задавшего генератора с подключенным к  его эл. схеме кв. резонатором -индикатором, не находящимся в режиме возбуждения.  измерения  выполнены до начала процесса тестирования (Гц) ,
fген.кв.2 - тот же параметр,  получен после завершения процесса  тестирования (Гц),
f  - полученное  изменение,  характеризующее изменение параметра Z (Гц).

Прежде чем перейти к анализу полученных результатов, необходимо отметить следующее.

Из формулы (4) следует, что под влиянием излучения плотности времени происходи» изменение структуры кристаллической решетки пьезоэлемента кварцевых резонаторов, приводящее  к снижению  численного  значения  произведения:  Lкв*Скв  и,  как следствие,  к увеличении частоты резонанса  (частоты  собственных колебаний  пластинки кварца).  Противоположное влияние поглощения плотности времени приводит к противоположным результатам.

Учитывая  вышесказанное  и  принимая во внимание выражение ( 7 ), следует, что сокращение значения произведения эквивалентных параметров индуктивности и емкости (Lкв., Скв.)  под влиянием излучения плотности времени  приводит к  сокращению  относительной величины "смещения-Z",  и,  наоборот, увеличение значения данного произведения  под влиянием поглощения плотности времени  приводит к адекватному увеличению относительной величины "смещения-Z".

Данные, представленные в таблицах № 4,5, и обнаруживают вышеописанные  изменения,  которые значительно превышают пороговые значения "естественного ухода" частоты задающего генератора.

Так, индикаторы-кварцевые резонаторы, подвергшиеся процессу тестирования в пространственной области посадочного следа  Д-028 (таблица № 4)  обнаруживают сокращение относительных величин "смещения -Z"; для каждого индикатора, выраженное увеличением относительной величины fген.кв.2.  Данный эффект вызван соответствующим сокращением численного значения произведения величин  эквивалентных  динамических параметров данных кварцевых резонаторов Lкв.  и Скв.

В свою очередь, данные, представленные в таблице № 5, показывают  изменение аналогичных ЗФП индикаторов-кварцевых резонаторов, подвергшихся  процессу  тестирования  в пространственной области посадочного следа Д-101,  обнаруживающих явно противоположный эффект.

Следовательно, можно  сделать однозначный вывод о том,  что под влиянием  излучения  плотности  времени  происходит  снижение численного  значения  произведения  величин эквивалентных динамических параметров кварцевых резонаторов Lкв, и Скв., что приводит к адекватному сокращению величины добротности Q. Влияние поглощения плотности времени приводит к противоположным результатам.

Возникает вопрос,  каким  образом  изменяются эквивалентные параметры Lкв. и Скв. при измерении данных величин раздельно, а не до принципу "суммарного влияния" (численного значения произведения данных величин), используемого в "нерезонансном методе".

Опираясь на выражение:

Х =f*L.  ( 8 )

где  Х - эквивалентное сопротивление индуктивности, f - частота, L - индуктивность, видим, что влияние излучения плотности времени приводит к сокращении величины индуктивности, (учитывая  характер  изменения электросопротивления проводника  с  положительным  температурным сопротивлением) под  аналогичным влиянием  при f = const.

Однако выражение ( 4 ) можно представить в виде:

из которого,  в свои очередь, следует,  что при условии отсутствия изменений (на частоте 32768 Гц) величины fрез, (исходя из результатов исследований), сокращение эквивалентного параметра Lкв, является  следствием  увеличения эквивалентного динамического параметра емкости  Скв.

На данный вывод наводят такие выражение:

Х =1/f*С  ( 10 )  ,

где  Х - эквивалентное сопротивление емкости;  f - частота, С - емкость, которое также свидетельствует о том, что излучение плотности времени приводит к увеличении параметра емкости.

Таким образом,  складывается ситуация,  при которой влияние излучения  плотности времени приводит к сокращению эквивалентного динамического параметра  индуктивности  Lкв.  и  соответствующему увеличению  эквивалентного  динамического  параметра емкости Скв. С учетом выражения (4),  данная ситуация приводит к  отсутствии сколь бы то ни было значительных изменений величины fрез, в килочастотном интервале.  В то же время,  если величина  fрез,  соответствует мегочастотному интервалу,  в соответствии с выражениями ( 8 ) и ( 10 ),  величина сокращения эквивалентного динамического параметра  индуктивности  Lкв,  под действием излучения плотности времени  будет существенно опережать "сопутствующее"  увеличение параметра емкости Скв.,  что приводит к ощутимому изменении параметра fрез-  частоты  резонанса  (частоты  собственных  колебаний пластинки кварца).  Этот эффект на частоте 11 МГц и был обнаружен Н.А. Козыревым.

В этом же кроется  причина  существенно  более значительной чувствительности  к воздействии изменения плотности времени  метода измерения изменений параметра добротности Q по отношении к резонансному методу (методу измерения изменений величины fрез.).  Из выражения ( 5 ) с учетом ( 4 ) следует:

Qкв. = fреэ. *Lкв. /Rкв.  ( 11 )
и
Qкв.=1/Rкв.*fрез.*Скв.  ( 12 ).

В данном  случае сокращение эквивалентного динамического параметра Lкв, и увеличение аналогичного параметра Скв,  под влиянием излучения плотности времени  приводят к однозначному сокращению параметра добротности Q тестируемого кварцевого резонатора  то есть изменения противоположных "знаков" приводят к одному и  тому же результату.

Вопрос лишь  в изыскании объективного метода регистрации изменений величины добротности  Q данного кварцевого резонатора, который и был успешно решав в вашей Лаборатории,  путем регистрации изменения положения "базовых точек" на "кривой активности", построенной для данного кварцевого резонатора.

Вышепредложенный "нереэонансный метод" исследований  также был  успешно  применен  для получения функциональной зависимости (график № 1 рис.  № 5) Y=f(х). характеризующей изменения электрофизических  параметров  индикаторов  (кварцевых резонаторов 32768 Гц ) от координат мест их расположения в момент индикации, таблица  № 6 (область внутренней кольцевой структуры повышенного влияния вторичного фактора (фото № 1), на оси посадочного следа Д-023. Данные зависимости получены с помощью прибора "Вега-024", способного производить постоянный контроль за изменениями  электрофизических  параметров  нескольких индикаторов (от 10 до 20 в зависимости от применяемой  батареи  индикаторов),  находящихся  внутри пространственной  области посадочного следа НЛО в режиме тестирования.

Общий анализ изменений электрофизических параметров индикаторов, подвергшихся тестированию в пространственной области посадочного следа  Д-023 в районе функционирования внутренней кольцевой структуры (фото № 1), показывает, что максимальное увеличение параметра  fген.кв,  прослеживается в индикаторе № 3,  координата расположения которого в режиме индикации на оси посадочного следа Д-023 соответствует кольцевой структуре,  характер функционирования которой на графике № 4 рис.1 обусловлен явлением  излучения плотности времени в ее пространственной области.

В то же время на графике № 1 рис. 5  имеет  место  экстремум-минимум,  соответствующий минимальному изменении (увеличению) параметра fген.кв.  кварцевой пластины индикатора № 4, координата расположения  которого  на оси данного посадочного следа, в свою очередь, соответствует кольцевой структуре, характер функционирования которой на графике № 4 рис.  1 обусловлен явлением поглощения плотности времени в ее пространственной области.


Так же,  как следует из графиков функций Y=f(х)- 1,2,3 рис. 5 (смысл которых показан в таблице № 6),  в пространственной области посадочного следа Д-023 имеет место "зона  нестабильности", пространственно расположенная в области тестирования индикатора № 2. На графике № 4 рис.  1 этой области соответствует расположение "ноль-структуры".

Данное явление  (зона  нестабильности) показывает характер взаимодействия плотности времени фона, обусловливающей расположение оси абсцисс графика функции W=f(х), с лежащими на ней точками перегиба этой функции, с долгофункционирующим вторичным фактором энергетического  влияния  посадочного  следа  Д-023.  Это взаимодействие приводит к постоянному  перемещению  вдоль  оси  данного посадочного следа  "ноль-структуры",  в  пространственной области которой вышеназванные величины равны.

Постоянное смещение "ноль-структуры" вдоль оси посадочного следа приводит,  в свою очередь, к постоянной смене "знака" энергетического влияния со стороны вторичного фактора на вещество индикатора № 2.  адекватно изменявшего свои ЭФП.  Если учесть,  что пространственная область "ноль-структуры" на оси посадочного следа представляет бесконечно малую величину, приближающуюся к материальной точке,  то ее "смещение" приводит если не к ежеминутной, то к  довольно  частой смене "знака" влияния на индикатор, тестируемый в ее пространственной области,  по существу,  точке на оси посадочного следа.

Следовательно, опираясь на вышеизложенное,  следует сделать вывод о полном соответствии функций W=f(х) и Y=f(х), обусловленных единой  причиной  изменения  плотности времени в пространственной области посадочного следа Д-023.

Влияние изменения плотности времени,  приводящее к изменению упругих свойств кварцевой пластины и, как следствие, к изменению ЗФП кварцевого резонатора, обладает свойством "сохраняться" в течение  определенного периода и после завершения процесса тестирования  в пространственной области посадочного следа НЛО. График № 1 рис. 6 (таблица № 7),  характеризующий ЭФП кварцевых резонаторов, полученные спустя 72 часа после завершения процесса  тестирования данных  индикаторов  в пространственной области посадочного следа Д-023,  обнаруживает  явление  "сохранения"  веществом  кварцевых пластин значений ЗФП, возникших в результате такого тестирования. Данное явление позволяет отказаться  от  "прямых"  измерений  ЗФП кварцевых  резонаторов,  выполняемых  непосредственно' в процессе тестирования в пространственной области посадочного следа НЛО,  и перенести  весь комплекс измерительных мероприятий в лабораторные условия.  В связи с этим  возникает возможность значительно увеличивать  период тестирования индикаторов в автономном (неконтролируемом) режиме.
 
 

Изменения электрофизических параметров кварцевых резонаторов в пространственной области посадочного следа Д-023

(по каталогу "Вега")

Таблица № б
 
 
Номер индикатора и координата в метрах по оси пос. следа
1
2
3
4
5
(м)
2,6
2,3
2,1
1,85
1,64
Период индикации
в (мин.)
Величины изменений электрофизических параметров /fген.кв./(Гц)
20
166
220
318
87
134
40
185
50
246
15
130
60
194
281
254
-2
97

Таблица № 7
 
 
Величины остаточных изменений электрофизических параметров /fген.кв./(Гц)
Период после индикации 72 час.
119
-32
118
-157
-13

Знак "+" говорит об увеличении параметра fген.кв. (Гц)

Знак "-" говорит о сокращении этой параметра.

Рисунок № б. График функции "остаточных" изменений электрофизических параметров кварцевых  резонаторов от  координат  мест индикации на оси посадочного следа Д-023 (на период 72 часа после завершения процесса тестирования).
 
 
 
 
 
другие статьи:
ГЛАВА XI. Газовые струи на луне
Эффективность бесконтактного информационного воздействия человека на жизнедеятельность микро- и макроорганизмов
Шипов Г.И. Психофизические феномены и теория физического вакуума
Физик в парапсихологии. Опыты и раздумья.
Информационные аспекты уфологии
Новости журнала "Чудеса и приключения"

Search All Ebay* AU* AT* BE* CA* FR* DE* IN* IE* IT* MY* NL* PL* SG* ES* CH* UK*
2007 Copyright © AstroSearch.ru Мобильная Версия v.2015 | PeterLife и компания
Интересные научные статьи. Предсказания, магия, эзотерика, астрология, астрономия, приворот, апокалипсис, гадание, значение, хиромантия, сонник, руны, гороскопы.
Пользовательское соглашение использование материалов сайта разрешено с активной ссылкой на сайт. Партнёрская программа.
Яндекс.Метрика Яндекс цитирования